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Propuesta de un diseño en probadora para minimizar las fallas provocadas por las mediciones EVM en la prueba de semiconductores de la familia 857XX
Summary
Abstract
Las compañías de fabricación de semiconductores garantizan la calidad y
fiabilidad de los productos que se entregan a los clientes al someter cada Circuito
integrado (IC) a una rigurosa metodología ...
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T4-2018
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