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Rediseño de placa de prueba de imagen para reducir el estrés eléctrico en microprocesador de televisiones inteligentes
Summary
Abstract
Los altos índices de defectos presentes en el área de producción de televisores inteligentes en la empresa Samsung Mexicana, crearon un área de oportunidad para la aplicación del presente trabajo de t...
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T3-2020
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SAMSUNG MEXICANA

